Anna Maria SALVI | CHIMICA ANALITICA SUPERIORE - MOD. A

CHIMICA ANALTITICA SUPERIORE – MOD. A

n. CFU: 5 (3 di lezione e 2 di esercitazioni /laboratorio) 
n.  ore: 48 (di 24 lezione e 24 di esercitazione/laboratorio) 

ITALIANO

Il corso approfondisce lo studio della struttura elettronica dei solidi con riferimento alle proprietà di superfici e interfacce, nell’ambito delle varie applicazioni della chimica analitica. 

Le prestazioni di varie tecniche spettroscopiche e microscopiche, specificatamente di superficie, sono messe a confronto in base al tipo di interazione radiazione-materia e risposte ottenibili. ??????

???????Analisi di un campione reale: stesura di una tesina sperimentale con descrizione di procedura sperimentale, elaborazione dei risultati ottenuti e riferimenti bibliografici.

Nessuno: Il Corso è rivolto agli studenti del primo anno della Magistrale in Scienze Chimiche

Materiali naturali e sintetici: classificazione in base al tipo di legame chimico. Materiali compositi. Proprietà collettive elettroniche e vibrazionali nei solidi: plasmoni, fononi. Processi di adsorbimento e ricostruzione di superfici. Studio delle proprietà di superfici ed interfacce ai fini della comprensione di fenomeni quali conducibilità, adesione, adsorbimento, corrosione, catalisi ecc. Classificazione delle principali tecniche di superfici e interfacce in base al tipo di interazione radiazione-materia, al tipo di informazione (strutturale, morfologica, di composizione), risoluzione e limiti di rivelabilità ottenibili.

Sono previste esperienze dimostrative sul funzionamento delle strumentazioni disponibili ed operative onsite con illustrazione delle specificità strumentali: sorgenti, sistemi per vuoto e/o ultra alto vuoto (UHV), sistemi per l’analisi, rivelazione del segnale e loro impiego in chimica analitica.

Principi alla base della tecnica spettroscopica XPS/ ESCA (X-ray Photoelectron Spectroscopy/Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) per analisi composizionale di superfici. Esercitazioni di laboratorio con utilizzo dei software per l’acquisizione e l’elaborazione degli spettri XPS con procedura di curve-fitting per l’identificazione e quantificazione delle componenti spettrali.  Principi di base e modalità operative delle tecniche di Microscopia: SEM (Scanning Electron Microscopy)/EDS, AFM (Atomic Force Microscopy). e TEM (Trasmission Electron Microscopy) per analisi morfologico-strutturali di confronto.

Analisi di un campione reale mediante XPS e tecniche combinate. Ideazione dello schema analitico ottimale e redazione di una tesina sperimentale con tutti i passaggi procedurali da discutere in sede d'esame.

Sarà distribuito alla classe durante il corso insieme al programma del Mod. B

Lezioni frontali / seminari tematici/ esercitazioni di laboratorio 

Sono previste verifiche parziali sul programma svolto utili per la stesura della tesina sperimentale. L'esame orale unico (Mod. A + Mod. B) avrà come base di partenza la discussione dei risultati riportati nella tesina finale che dovrà essere consegnata alla docente almeno una settimana prima della data di appello.

1.-D.Briggs, M.P.Seah. Practical Surface Analysis’ Vol. I e II. J.Wiley & Sons (1990).

2.-P.A. Cox. The Electronic Structure and Chemistry of Solids' Oxford Science Pubblications

3.-P.E.Flewitt and R.K.Wild. Physical Methods for Materials Characterisation’ Institute of Physics Publishing– Bristol & Philadelphia

4.-Dispense del Corso      

5. http://www.nist.gov/ts/msd/srd/surface.cfm (XPS database) 

Le lezioni teoriche saranno seguite da esperienze dirette nel laboratorio XPS e dimostrative con altre strumentazioni di confronto, come specificato nel programma. Il corso intende fornire le basi per l'apprendimento all’uso delle strumentazioni e per l'interpretazione dei dati da queste ottenibili. Ad ogni studente verrà assegnata un'applicazione analitica individuale consistente nella caratterizzazione, tramite XPS ed eventuali tecniche combinate, di un campione reale. Gli studenti saranno costantemente seguiti nel corso delle esercitazioni e delle lezioni frontali, inoltre, potranno rivolgersi alla docente per eventuali approfondimenti nei seguenti orari di ricevimento: Martedi e Giovedi ore 16-17 (Studio 4°piano MR-Edificio 2DA) o in altri orari da concordare tramite email anna.salvi@unibas.it o Cell. di servizio 3204238516

DATE DI ESAME PREVISTE * 

23/02/2024; 27/03/2024; 19/06/2024; 26/07/2024; 27/09/2023; 23/10/2024

*Salvo possibili modifiche: consultare il sito Web dell'insegnante o del Dipartimento per gli aggiornamenti.

SI previsti

Commissione Esami

Presidente: Anna Maria Salvi   Componente:  Maria Assunta Acquavia (cultrice della materia) 

Componenti Aggiuntivi: Giuliana Bianco; Rosanna Ciriello; Angela Di Capua; Antonio Guerrieri.